Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.khpa.edu.ua//jspui/handle/123456789/4040
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorРудич, А.О.-
dc.contributor.authorТомаровська, Тетяна-
dc.date.accessioned2025-01-10T12:52:55Z-
dc.date.available2025-01-10T12:52:55Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.urihttp://repository.khpa.edu.ua//jspui/handle/123456789/4040-
dc.descriptionРудич А. О. Критична концентрація міцелоутворення колоїдних ПАР косметологічних міцелярних вод / А. О. Рудич, Т. О. Томаровська // Інноваційні хімічні технології та інженерія : зб. тез доповідей ІІ Всеукраїнської науково-практичної конференції молодих учених і студентів (м. Київ, 19-20 листопада 2024 р.). – Київ : Київський авіаційний інститут, 2024. С. 5–7.en_US
dc.description.abstractКритична концентрація міцелоутворення є важливішою характеристикою колоїдних поверхнево активних речовин (КПАР). Встановлювали критичну концентрацію міцелоутворення (ККМ) колоїдних ПАР, які входять до складу косметичних міцелярних вод. Застосовували метод рефрактометрії для визначення показника заломлення досліджуваних розчинів колоїдних ПАР, порівнювали графічно одержані результати з наданими у літературних джерелах для інших речовинen_US
dc.subjectкритична концентрація міцелоутворення, міцелярна вода, рефрактометричний метод, показник заломленняen_US
dc.titleКритична концентрація міцелоутворення колоїдних ПАР косметологічних міцелярних водen_US
Appears in Collections:Тези

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tomarovska_tz1.pdf.pdf272.23 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.