Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repository.khpa.edu.ua//jspui/handle/123456789/4040
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorРудич, А.О.-
dc.contributor.authorТомаровська, Тетяна-
dc.date.accessioned2025-01-10T12:52:55Z-
dc.date.available2025-01-10T12:52:55Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.urihttp://repository.khpa.edu.ua//jspui/handle/123456789/4040-
dc.descriptionРудич А. О. Критична концентрація міцелоутворення колоїдних ПАР косметологічних міцелярних вод / А. О. Рудич, Т. О. Томаровська // Інноваційні хімічні технології та інженерія : зб. тез доповідей ІІ Всеукраїнської науково-практичної конференції молодих учених і студентів (м. Київ, 19-20 листопада 2024 р.). – Київ : Київський авіаційний інститут, 2024. С. 5–7.en_US
dc.description.abstractКритична концентрація міцелоутворення є важливішою характеристикою колоїдних поверхнево активних речовин (КПАР). Встановлювали критичну концентрацію міцелоутворення (ККМ) колоїдних ПАР, які входять до складу косметичних міцелярних вод. Застосовували метод рефрактометрії для визначення показника заломлення досліджуваних розчинів колоїдних ПАР, порівнювали графічно одержані результати з наданими у літературних джерелах для інших речовинen_US
dc.subjectкритична концентрація міцелоутворення, міцелярна вода, рефрактометричний метод, показник заломленняen_US
dc.titleКритична концентрація міцелоутворення колоїдних ПАР косметологічних міцелярних водen_US
Розташовується у зібраннях:Тези

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Tomarovska_tz1.pdf.pdf272.23 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.